Université d'Orléans

Profilomètre mécanique

Brucker Dektak XT

Le Dektak XT est conçu pour la caractérisation des états de surface par profilométrie à stylet. Pendant la mesure, le substrat se déplace linéairement sous la pointe. Les mouvements verticaux du stylet sont transmis par un système électromagnétique, mesurant ainsi la topographie de surface de l’échantillon.

  • Platine motorisée de déplacement XY de 150mm, rotation motorisée 360°,
  • Porte-substrat jusqu'à 6 pouces,
  • Hauteur de marche jusqu'à 1mm et longueur de balayage jusqu’à 55mm,
  • Diamètre de stylet 12µm,
  • Profil digitalisé jusqu'à 120 000 pts par scan,
  • Profilage 3D.

Savoir-faire :

Profil 3D d’un dépôt

 

Profil 2D d’une ouverture de résine