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Mesure de résistivité à 4 pointes

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LucasLabs Resistivity Stand 302 + Microworld SP4-62045TBS

Cette méthode permet de caractériser la résistivité des films minces métalliques à température ambiante. Quatre pointes métalliques en tungstène sont alignées et équidistantes, en contact avec la surface de l’échantillon : deux pour le courant appliqué et deux pour la différence de potentiel V induite, permettant alors d’obtenir la caractéristique courant-tension du matériau couche mince.

  • Plate forme LucasLabs avec support des pointes et plateau à translation XY
  • Générateur de courant Keithley 6221 pour un courant maximal de 0,1A
  • Nano-voltmètre Keithley 2182A pour la mesure fine de la tension induite
  • Sonde de mesure 4 pointes (distance entre pointes de 1,6mm / rayon des pointes de 254µm / pression de chaque pointe 45g)